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Offline FT光学测试系统(AOI&AVI/OTP 测试)

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所属分类 : 画面缺陷AOI检测
零售价
0.0

特点:
Micro OLED离线光学测试系统,0.2-3inch;
自动运动控制;
手动产品上下料,自动对位,手动压接、自动测试;
采用快速多功能夹具,支持多种型号产品,快速切换;
多仪器搭载,支持AOI与光学;
支持不同温度点gamma调整,烧录;
支持wafer 点线面缺陷测试,光学特性测试;
支持不同尺寸TEG片开发阶段测试;

 

项目

规格

尺寸

长*宽*高:1.98m*2.08m*2.00m

测试样品大小

0.39inch~3inch,8”&12”wafer

彩色分析仪

CA402,探头测量口径约2 mm。探头采用专用的光学系统与算法,确保在超低亮度与小尺寸测量的条件下仍可准确测量

相机

1、AOI相机4300万,高分辨率CCD。

运动系统

采用高精度伺服电机,高精度滚珠螺杆,

功能

色度、亮度、均匀性、、光谱测试等

支持:点、线、面缺陷测试,Mura测试。

信号

支持特仪制制型号机以及市面通用品牌信号机,支持客制化化信号,信号格式:TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等

电源

支持高精度多路直流电源输出,以及客制化电源需求。

软件

特仪自主开发之软件,全中文版,C#编程模块化,操作简单,UI界面可依据客户需求进行定制,软件自带各标准测试手法,可以通过直接调用模式进行测试。

 

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