高速清洗机
产品分类
全部分类
特点：
Micro OLED离线光学测试系统，0.2-3inch；
自动运动控制；
手动产品上下料，自动对位，手动压接、自动测试；
采用快速多功能夹具，支持多种型号产品，快速切换；
多仪器搭载，支持AOI与光学；
支持不同温度点gamma调整，烧录；
支持wafer 点线面缺陷测试，光学特性测试；
支持不同尺寸TEG片开发阶段测试；
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项目 |
规格 |
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尺寸 |
长*宽*高：1.98m*2.08m*2.00m |
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测试样品大小 |
0.39inch~3inch,8”&12”wafer |
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彩色分析仪 |
CA402,探头测量口径约2 mm。探头采用专用的光学系统与算法，确保在超低亮度与小尺寸测量的条件下仍可准确测量 |
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相机 |
1、AOI相机4300万，高分辨率CCD。 |
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运动系统 |
采用高精度伺服电机，高精度滚珠螺杆， |
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功能 |
色度、亮度、均匀性、、光谱测试等 支持：点、线、面缺陷测试，Mura测试。 |
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信号 |
支持特仪制制型号机以及市面通用品牌信号机，支持客制化化信号，信号格式：TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等 |
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电源 |
支持高精度多路直流电源输出，以及客制化电源需求。 |
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软件 |
特仪自主开发之软件，全中文版，C#编程模块化，操作简单，UI界面可依据客户需求进行定制，软件自带各标准测试手法，可以通过直接调用模式进行测试。 |
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