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Inline Final 光学测试系统

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所属分类 : 画面缺陷AOI检测
零售价
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本设备适用于Micro OLED产品光学测试AOI缺陷测试及AVI外观缺陷检测;
设备组成: 光学检测单元、 运动单元、视觉对位单元、画面检测单元、外观检测单元;
对应产品屏解析度: 最高4K,兼容尺寸0.2inch~3inch;检测精度:0.8um;
针对检测后不良程度进行自动分拣下料;
系统设计采用先进科技,经客户验证,运行品质良好,控制系统采用的执行元件应具备高精度、高可靠性和反应迅速的特点。

功能
针对切割后的Die组装为成品后做最终点灯/光学测试

规格
人工自动上下料,全自动测试
测试治具-Pogo PIN探针接触(连接头材质PEEK,接触寿命>10000次)
连接头形状-依据客户产品定制化
搭载4300M CCD 和5倍放大镜头,支持8K分辨率,支持子像素1.2um
搭载Klein Instrument CA-小尺寸测试探头,支持色度和亮度测试
支持点灯画检/光学检测/gamma Tuning/OTP/MTP/demura
主动防震台,支持VC-D/F等级
支持产品等级分类
支持CIM&MES系统整合

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