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老化测试系统(inline aging动态式)

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老化测试系统(inline aging动态式)

所属分类 : 老化测试
零售价
0.0

◆设备适用
适用:LCD/OLED
样品尺寸:OPEN CELL

 

◆工作流程
Loader->插线->buffer Lifter->Aging Chamber->拔线->Unloader

 

◆设备参数:
·cell过压检测,多路真空设计,防止掉片与压片;
·智能计算机芯片对发热流道温度进行实施探测;
·PID控制自动调节温度、输出功率等参数测量计算;
·控制精度为±3℃,温度控制范围为50°℃~60°℃ ;
·CCD定位,伺服模组调整参数,保证放片精度;
·配备离子bar ;
·BOX四边定位,保证定位精度,通过伺服自动调整,自动调整间距﹔·Spacer防抖动设计,吹气装置与防静电软毛刷,防止带片,粘片;
·对射光电开关检测BOX层数,高度可调整;
·cell取片与装箱之上方,增加FFU ;
·可实现高速移载及自动插拔。

 

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