Language
搜索
确认
取消
TEYI
/
/
/
MIT光学测试系统(wafer测试)

产品分类

全部分类
MIT光学测试系统(wafer测试)
MIT光学测试系统(wafer测试)
MIT光学测试系统(wafer测试)
MIT光学测试系统(wafer测试)
MIT光学测试系统(wafer测试)
MIT光学测试系统(wafer测试)

MIT光学测试系统(wafer测试)

所属分类 : 光学性能检测
零售价
0.0

功能:
主要针对wafer上每Die逐片点灯以进行 光学性能,电气性能 AOI检测


规格:
wafer Probe: 支持100mm/125mm/150mm/200mm Wafer
Cassette Loader,支持 Wafer自动上下料
客制化Prober Card,支持单通道&多通道测试
搭载151M光学光谱仪镜头 ,支持8K分辨率,支持最小子像素0.8um
支持色度亮度测试
主动防震台支持VC-D/F等级
支持CIM&MES系统整合

◆特点:
·晶圆光学测试系统,8&12inch各种材质晶圆;
·自动三轴运动控制;
·Wafer上下料,自动对位,自动测试;
·多功能夹具,支持8”&12”探针卡;
·多仪器搭载,支持AOI与光学测试。

 

项目 规格
尺寸 长*宽高2.84m*1.90m*2.40m
测试样品大小 8”&12" wafer
光谱仪 CS-2000ASR-UL2/PR788/SR3
相机 4300万,高分辨率CCD
运动系统 采用高精度伺服电机,高精度滚珠螺杆
功能 色度、亮度、均匀性、光谱测试等;支持:点、线面缺陷测试, mura测试
信号 支持特仪自制信号机以及市面通用品牌信号机,支持客制化信号,信号格式
TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等
电源 支持高精度多路直流电源输出,以及客制化电源需求
软件 特仪自主开发之软件,全中文版,C#编程模块化,操作简单, UI界面可依据客
户需求进行定制,软件自带各标准测试手法,可以通过直接调用模式进行测试

相关评论

我要留言
验证码:
验证码错误!
发布留言
全部评论
已有0条评论
暂时没有内容信息显示
请先在网站后台添加数据记录。

热门产品

热门产品

外观检测AVI~半导体 (Wafer外观检测)
Offline FT光学测试系统(AOI&AVI/OTP 测试)
Inline Final 光学测试系统
三轴光学测试系统(Lifetime)
AOI光学系统
MIPI信号 TY-PG101
LVDS/V-BY-ONE信号 TY-PG102
LVDS/MIP/eDP信号 TY-PG103
Bist card TY-BIST

相关新闻

厦门特仪科技有限公司
地址∶同安区集成路1633号创新创业园5楼
电话∶
0592-6241779

 

特仪科技(盐城)有限公司
地址∶盐城市盐南高新区科技路20号宏洲智能科技园6幢4楼
电话∶
0515-88551510

 

合肥特仪科技有限公司
地址∶合肥市新站区怀远路与东方大道交口北约500米处合肥大道经济发展有限公司3幢厂房3层

 

特仪科技(东莞)有限公司
地址∶东莞市东城街道同沙工业园同聚街3号办公楼三层

二维码

  • 特仪科技官网二维码
  • 特仪微信公众号微信公众号
版权所有©厦门特仪科技有限公司 闽ICP备16024495号-1 网站建设:中企动力厦门